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Glosario Nanotecnología / Término

Microscopio de Fuerza Atómica

Atomic Force Microscope

Es un instrumento científico que usa la deflexión de una punta nanoscópica al final de una viga en voladizo (como el trampolín de salto en una piscina) para describir superficies. La deflexión en cada punto evaluado es procesada por una computadora para crear una imagen de la superficie que pueda ser interpretada por el ojo humano. Debido a que la punta es muy pequeña y el mecanismo de detección de la deflexión es tan preciso, el microscopio de fuerza atómica (AFM) solo responde a regiones de tamaño nanométrico produciendo imágenes muy detalladas de la superficie (luego de ser procesadas por computadora).

Enlace permanente: Microscopio de Fuerza Atómica - Fecha: 2016-04-07 03:31:04


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