Microscopio Electrónico de Emisión de Campo

Una forma de los microscopios TEM o SEM que emplea un haz de electrones producidos por el efecto quántico de túnel. En microscopía, este proceso de túnel ha sido tradicionalmente llamado emisión de campo (FE en inglés). La versión del TEM es referida como FETEM. La versión del SEM es referida como FESEM. Estos instrumentos son capaces de “observar” objetos muy pequeños (incluyendo átomos en el caso del FETEM). Tanto en el FETEM como en el FESEM, la intensidad del haz de electrones que atraviesa o rebota del objeto es procesada por un computador para crear una imagen que entonces puede ser observada por el ojo humano.