Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo
Field Emission Scanning Electron Microscope
Es un microscopio de emisión de campo donde el haz de electrones hace un barrido de la muestra y la información de los electrones es usada para crear la imagen que se origina desde el rayo original que ha sido desviado de la superficie de la muestra hacia un detector (emisión retrodispersada), o desde los electrones que son disparados desde la superficie de la muestra debido al impacto del haz de electrones (emisión secundaria).