El Microscopio Electrónico de Barrio (SEM) permite obtener imágenes tridimensionales de la topografía de la superficie de una muestra barriendo sobre ella un fino haz electrónico sincronizado con el haz que forma la imagen en la pantalla o monitor. La obtención de imágenes tridimensionales de los objetos resulta posible porque el SEM no registra los electrones que pasan a través de la muestra sino los electrones secundarios liberados desde la muestra por el haz de electrones que choca contra ella. La profundidad de campo del MEE es de 500 veces la de un microscopio óptico. Véase microscopio electrónico.
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